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臺式掃描電鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM)相較于傳統大型SEM，臺式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡便、價格便宜、快速抽真空、不用噴金測量不導電樣品等優勢，而且它的放大倍數可高達130,000倍。此類新型儀器的出現填補了光學顯微鏡與傳統大型掃描電子顯微鏡之間的空白區域，可廣泛應用于材料科學、納米顆粒、生物醫學、食品藥品、紡織纖維、地質科學等諸多領域。臺式掃描電鏡的工作原理和優點：成像系統和電子束系統均內置在真空柱中，真...

低溫環境XRD的分析中，定量分析軸承和內燃機噴射器部件中的殘余奧氏體；檢測輸片惰性輪中的殘余應力；檢測汽車發動機部件的殘余應力(凸輪軸、連桿、發動機軸、均衡器)；檢測由于全同火引起的殘余應力(家用電器、結構部件)；檢測氣體傳導時所存在的工作壓力；檢測大幅度拉伸結構件中的工作應力；通過檢測應力來測量工件噴丸和軋制的效率；檢測鑄件的殘余應力(機械工具鑄鐵件和汽車鑄鋁部件)；檢測焊接引起的應力(激光和電焊)；研亢鋁合金汽車輪廓中的殘余應力和應力阻抗的笑系：優化切削去除的工作參數以提...

日本電子電鏡是一個復雜的系統，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發展和應用的拓展，相繼發展了宏觀斷口學和顯微斷口學。是在加速高壓作用下將電子槍發射的電子經過多級電磁透鏡匯集成細小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應束流為101-1012A)。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會產生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些...

高溫環境XRD是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。高溫環境XRD的原理：x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這...

SEM掃描電鏡是一種用于放大并觀察物體表面結構的電子光學儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理系統、電子信號的顯示和記錄系統、真空系統和電源系統等組成，具有放大倍數可調范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點。應用于生物、醫學、材料和化學等領域。SEM掃描電鏡在使用時應需要以下事項：1、將試樣置于載物臺墊片，調整粗/微調旋鈕進行調焦，直到觀察到的圖像清晰為止；2、調整載物臺位置，找到要觀察的視野，進行分析；3、掃描電鏡調焦時注意不要使物鏡碰到試樣，以免劃傷物鏡；4、當載物臺墊片...

X射線衍射儀XRD是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法，已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。X射線衍射儀XRD的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為衍射...

臺式掃描電子顯微鏡具有由三極電子槍發出的電子束經柵極靜電聚焦后成為直徑為50mm的電光源。在2-30KV的加速電壓下，經過2-3個電磁透鏡所組成的電子光學系統，電子束會聚成孔徑角較小，束斑為5-10nm的電子束，并在試樣表面聚焦。末級透鏡上邊裝有掃描線圈，在它的作用下，電子束在試樣表面掃描。高能電子束與樣品物質相互作用產生二次電子，背反射電子，X射線等信號。這些信號分別被不同的接收器接收，經放大后用來調制熒光屏的亮度。由于經過掃描線圈上的電流與顯像管相應偏轉線圈上的電流同步，...